LEPTOSKOP 2042涂層測(cè)厚儀

涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP 2042具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡(jiǎn)單的操作方法，是的涂層測(cè)厚儀。通過(guò)解鎖代碼，可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)迅速的升級(jí)。

可定制帶系統(tǒng)的涂層測(cè)厚

涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP 2042利用磁感應(yīng)法（DIN EN ISO 2178）測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法（DIN EN ISO 2360）測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。

儀器將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合，同時(shí)提供10種可供任意選擇的語(yǔ)言，以滿(mǎn)足客戶(hù)的各種需求,是一種經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品，電池壽命長(zhǎng)，可以連續(xù)工作100小時(shí)以上。儀器記錄工作時(shí)間和測(cè)量數(shù)量，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。

彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi)，可以保護(hù)儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。

特點(diǎn)概述:

大圖解屏幕48 mm x 24 mm,有背景燈

校準(zhǔn)選項(xiàng)

出廠(chǎng)時(shí)已校準(zhǔn)，立即可用

在未知涂層上校準(zhǔn)

零校準(zhǔn)

在無(wú)涂層的基體上一點(diǎn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)

在有涂層的基體上校準(zhǔn)

校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以別單獨(dú)存儲(chǔ)在獨(dú)立的校準(zhǔn)檔案中，也可以隨時(shí)調(diào)出

可選擇的顯示模式，以佳形式去完成測(cè)量任務(wù)

輸入和極限監(jiān)視*

在Windows下有簡(jiǎn)單的存儲(chǔ)讀數(shù)檔案管理

可用的電腦軟件STATWIN 2002和EasyExport

統(tǒng)計(jì)：

可統(tǒng)計(jì)評(píng)估999個(gè)讀數(shù)

小值、大值、測(cè)量個(gè)數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)偏差和極限監(jiān)視

局部厚度和平局膜層厚度（DIN EN ISO 2808）

在線(xiàn)統(tǒng)計(jì)，所有統(tǒng)計(jì)值概括

LEPTOSKOP 2042有3種配置級(jí)別：
基本型– 證明質(zhì)量的基本特征                              

高級(jí)型- 附加統(tǒng)計(jì)評(píng)估

專(zhuān)業(yè)型- 統(tǒng)計(jì)評(píng)估和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

如果針對(duì)新的測(cè)量要求，而需要儀器增加新的功能，可以在任何時(shí)候把儀器升級(jí)為高級(jí)型和/或?qū)I(yè)型。升級(jí)只需在現(xiàn)場(chǎng)輸入解鎖代碼，“統(tǒng)計(jì)”和/或“統(tǒng)計(jì)& 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)”，便可完成；而不需要把儀器反廠(chǎng)或重新購(gòu)買(mǎi)新機(jī)器。

多樣的探頭：

多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下，更容易地測(cè)量復(fù)雜幾何圖形上的特殊涂層厚度。涂層厚度是20mm也是可以的。根據(jù)需求，我們也可以訂做特殊探頭。

有任何疑問(wèn)，請(qǐng)及時(shí)與我們溝通！期待您的電鈴！

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