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時代 涂層測厚儀可選附件-探頭

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北京時代
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產(chǎn)品詳情

F1探頭

      F1探頭是涂層測厚儀磁性法測量的通用標準探頭,測量范圍0-1250um,基本覆蓋大部分涂層厚度范圍,也是TT270涂層測厚儀的標配探頭。

測頭型號

F1

工作原理

磁感應(yīng)

測量范圍(um)

0-1250

低限分辨力(um)

0.1

示值誤差

一點校準(um)

±[3%H+1]

兩點校準(um)

±[(1~3)%H+1]

測量條件

最小曲率半徑(mm)

凸1.5

基體最小面積的直徑(mm)

ф7

最小臨界厚度(mm)

0.5

探頭尺寸(mm)

ф12X47

N1探頭

       N1探頭是渦流法涂層測厚儀測量的通用標準探頭,測量范圍0-1250um,基本覆蓋大部分涂層厚度范圍,也是TT270覆層測厚儀的標配探頭。


測頭型號

N1

工作原理

電渦流

測量范圍(um)

0-1250(銅上鍍鉻0-40um)

低限分辨力(um)

0.1

示值誤差

一點校準(um)

±[3%H+1.5]

兩點校準(um)

±[(1~3)%H+1.5]

測量條件

最小曲率半徑(mm)

3

基體最小面積的直徑(mm)

ф5

最小臨界厚度(mm)

0.3

探頭尺寸(mm)

ф15X73


F1/90探頭

      TT270覆層測厚儀選配F1/90探頭,主要用于管材內(nèi)壁的涂層厚度測量。它細長的身形可以輕松的深入其它探頭無法到達的細管中。夾層和細縫中的涂層厚度測量也是它的拿手好戲。


測頭型號

F1/90

工作原理

磁感應(yīng)

測量范圍(um)

0-1250

低限分辨力(um)

0.1

示值誤差

一點校準(um)

±[3%H+1]

兩點校準(um)

±[(1~3)%H+1]

測量條件

最小曲率半徑(mm)

平直

基體最小面積的直徑(mm)

ф7

最小臨界厚度(mm)

0.5

探頭尺寸(mm)

7.5X11X200


    

F10探頭

      TT270涂鍍層測厚儀選配F10探頭,測量范圍由標配的0-1250um擴展至0-10000um,主要用于大厚度的涂層測量。選配F10探頭還應(yīng)增配2000um、4000um、8000um的標準校準片,用于校準儀器。


測頭型號

F10

工作原理

磁感應(yīng)

測量范圍(um)

0-10000

低限分辨力(um)

10

示值誤差

一點校準(um)

±[3%H+10]

兩點校準(um)

±[(1~3)%H+10]

測量條件

最小曲率半徑(mm)

10

基體最小面積的直徑(mm)

ф40

最小臨界厚度(mm)

2

探頭尺寸(mm)

ф27X47


F400探頭

      TT270涂鍍層測厚儀選配F400探頭,主要用于較薄厚度的涂層測量,可獲得更精確的測量結(jié)果和更高的重復性,另外在管材基體直徑較小或者被測區(qū)域接觸面積較小時,F(xiàn)400探頭也是最佳的選擇。


測頭型號

F400

工作原理

磁感應(yīng)

測量范圍(um)

0-400

低限分辨力(um)

0.1

示值誤差

一點校準(um)

±[3%H+1]

兩點校準(um)

±[(1~3)%H+0.7]

測量條件

最小曲率半徑(mm)

凸 1

基體最小面積的直徑(mm)

ф3

最小臨界厚度(mm)

0.2

探頭尺寸(mm)

ф12X55


    

CN02探頭

      TT270漆膜測厚儀選配CN02探頭,主要用于測量線路板上的銅箔厚度,檢測范圍在10-   200um之間。


測頭型號

CN02

工作原理

電渦流

測量范圍(um)

10-200

低限分辨力(um)

1

示值誤差

一點校準(um)

±[3%H+1]

兩點校準(um)

-

測量條件

最小曲率半徑(mm)

平直

基體最小面積的直徑(mm)

ф7

最小臨界厚度(mm)

無限制

探頭尺寸(mm)

ф16X67

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